pogopin探针不稳定会造成什么结果

传统的测试探针pogo pin在测试过程中出现不稳定现象几率很高。

1、测试不稳定，pogo pin本身是多配件结构，接触点多，易产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题。

2、测试时探针经常性扎歪，然后需要人员重新进行探针调整，浪费了大量的时间和人工成本。

3、卡PIN：同样因为由多结构组合而成，这个在pogo pin身上是避免不了的问题。

4、极易断针：随着pitch的缩小，pogo的针径也越来越小，使得探针的断针风险逐渐增加。

5、使用寿命很短：探针的使用寿命均在5W次以下，并容易磨损，使用次数到一定的寿命后易导致接触不良、误测等现象。

东莞柯睿电子弹片微针模组pitch值最小间距可达0.1mm，范围在0.1mm-0.4mm，测试人员可轻松应对各种精细化的测试。（弹片结构较为扁平，可支持的pitch值范围更大）

相对测试探针，弹片微针模组的使用寿命高达20W次，是测试探针的整整四倍，这大大降低了测试成本，提高了测试效率，避免浪费不必要的时间。（一体化成型的弹片结构更稳定，寿命更长）

弹片微针模组的过流范围广，更高可过30A额定电流，范围在1-30A。（弹片的导电性能优于探针，测试过程中电阻恒定，电流传导于同一种材料中，几乎不会发生衰减）